Enovasense

01 — 产品概览

Enovasense HKL2 检测站

交钥匙式激光光热涂层厚度测量台 — 适用于实验室、质量检验和线旁检测

Enovasense HKL2 是一款交钥匙式检测站，在激光安全防护罩内集成了 Enovasense Point Sensor，并配备自动化三轴定位系统、触摸屏 HMI 以及完整的 Enovasense Suite HKL2 软件。它将光热传感器扩展为完整的非接触、无损涂层厚度测量解决方案：可直接放入零件，自动将其定位到探头下方，执行预编程循环，并实时输出厚度值和二维厚度分布图。

HKL2 适用于实验室、研发、质量检验工作台以及线旁 100% 检测，可测量平面、阶梯状或简单三维几何形状的零件。它可在几乎任何基材上测量油漆、聚合物、胶粘剂、阳极氧化、电镀、热喷涂、冷喷涂、HVOF、PVD、CVD、PACVD、镀锌和丝网印刷沉积层，在单一平台上覆盖 100 nm 至 1 mm 的厚度范围。

1 类激光防护罩 自动化三轴 触摸屏 HMI 厚度分布图 循环编程 实验室与线旁

02 — 为什么选择 HKL2 检测站

这款检测站适用于实验室或质量检验工作台的六个理由

1. 1 类激光防护罩 — 对每位操作人员都安全

HKL2 内部安装的是 4 类激光光源，但检测站整体通过了符合 IEC 60825-1 的 1 类认证，即在所有正常使用条件下均安全。自动滑动门上的大面积激光滤光窗使操作人员能够看到被测零件，而编码磁性联锁装置、前部急停按钮、PLC 以及 PLe 等级的安全继电器确保一旦打开舱门即切断激光和各轴。正常操作时无需激光安全培训，也无需佩戴防护眼镜。

2. 自动定位 — 精确、可重复、支持循环运行

HKL2 集成了三轴笛卡尔定位系统（X、Y、Z 行程 450 × 450 × 300 mm），精度为 20 µm。探头按照预编程循环自动从一个测量点移动到下一个测量点，操作人员只需放入零件、按下启动，返回时即可获得完整的厚度分布图。

3. 完整的软件套件 — 从信号调节到厚度分布图

HKL2 随附 Enovasense Suite HKL2，这是一个完整的应用环境，涵盖信号测试、频率扫描、校准训练（神经网络）、单点测量、G 代码循环编辑以及循环自动执行。厚度彩色分布图、曲线和统计数据在循环运行时实时生成，所有数据均以 CSV 格式导出，便于集成到 MES 或 SPC 系统。

4. 几分钟完成厚度分布测绘，而不是几小时

借助自动化轴、循环编辑器和实时可视化的结合，HKL2 可在几分钟内生成零件的二维厚度彩色分布图，适用于研发中的工艺表征、来料批次质量检验，或在生产样件上替代破坏性方法。

5. 兼容 Enovasense 全系列光学工具

HKL2 可使用 Enovasense 产品目录中的所有光学工具 — 简单透镜（垂直测量）和反射镜工具（在孔内、侧壁、台肩处进行水平测量）— 以及波长为 445 nm、980 nm、1450 nm 和 1550 nm、功率 1 W 至 10 W 的所有激光模块。选配的自动换刀装置可在单个循环内切换光斑尺寸或测量方向，无需操作人员干预。

6. 结构紧凑、独立运行、维护量少

HKL2 尺寸为 1.2 × 0.9 × 0.85 m，重 200 kg，可放置在标准工作台或选配的 HKL 工作台上。它由单个 100–240 V AC 插座供电，自带嵌入式 PC 和触摸屏，只需定期清洁前透镜和测量区域。无需液体、无耗材，也无需破坏性样品制备。

03 — 应用

HKL2 检测站的应用领域

HKL2 是 Enovasense 台式检测站中用途最广的一款。凡是平面或中等复杂零件需要可靠、无损的涂层厚度控制的场合，它都在各行业中得到应用：

04 — 技术

激光光热辐射测量 — 集成于安全的自动化检测站

HKL2 将 Enovasense Point Sensor 集成在安全的自动化防护罩内。模块发出的调制激光束经光纤传输至探头，聚焦在涂层表面，并在涂层内部产生受控的热波。探头内的红外探测器采集返回的热波。随后，通过基于参考样品训练的校准，由这些信号推算出涂层厚度。

为什么选择这项技术 — 概要

光热辐射测量是完全光学和热学的方法：不接触零件，也无需任何电耦合或磁耦合。因此，传感器不受基材磁性、表面粗糙度（在较大范围内）、零件几何形状和生产环境的影响。在 HKL2 内部，传感器受益于受控的防护罩、自动定位系统和专用 HMI，使每次测量都可重复且不依赖操作人员。

05 — 总体说明

HKL2 检测站一览

HKL2 由四个主要功能模块组成：触摸屏控制 HMI、一对激光安全的自动装载门、内部探头定位系统，以及位于机器左侧、容纳传感器控制器和嵌入式 PC 的电气柜。

控制 HMI — 操作界面

检测站正面的 15.6 英寸触摸屏运行完整的 Enovasense Suite HKL2。其正下方设有舱门按钮、电源指示灯、急停按钮，以及两个可连接鼠标、键盘或 U 盘的 USB 接口。检测站的所有功能均可仅通过触摸屏操作。

装载门和测量区

自动滑动门打开后形成 0.55 m × 0.5 m 的开口，用于将零件放入检测站。测量区底部为带 T 型槽导轨系统的槽台，用于固定样品。舱门上的大面积透明窗为符合标准的激光防护玻璃（IEC 60825-1），可阻挡激光，同时让操作人员目视监控测量过程。

探头定位系统

在检测站内部，三轴笛卡尔平移系统使光学探头在已放入的零件上方移动。探头固定在 Z 轴上，可安装任何 Enovasense 光学工具，包括用于垂直测量的简单透镜、用于水平测量的 90° 反射镜工具，以及选配的用于角度扫描的旋转模块。

电气柜

检测站左侧为电气柜，内含传感器控制器、激光模块、轴电子装置、嵌入式 PC、PLC 和安全继电器。电气柜由两把钥匙锁保护，防止非专业人员打开，并配有主开关、电源指示灯、220 V 工业插座以及用于将检测站连接到外部网络的 RJ-45 接口。

06 — 软件与工作流程

Enovasense Suite HKL2 — 从原始信号到厚度分布图

检测站的所有功能均可通过统一的启动器访问。针对新的涂层-基材应用，典型工作流程包括四个阶段，之后在每次生产测量中无需修改即可重复使用：

循环编辑器 — 可编程及自动生成的图案

循环编辑器提供带逐步执行面板的编程控制台、命令状态表、预编程轨迹的三维可视化以及实时测量表。常用图案可通过简单的参数对话框自动生成 — 矩形网格（gridXY）、直线（lineXYZ）、圆（circleXY）、极坐标图案（polarXY）和全圆盘网格（diskGridXY）— 因此用户很少需要手动编写代码。

实时可视化 — 曲线和彩色分布图

循环运行时，每次测量都会连同其 X、Y、Z 坐标、所用校准和厚度值一起写入测量表。“Quick plot”窗口提供两种实时视图：测量值的时间序列曲线，以及 XY 平面上的二维彩色分布图，其厚度范围、分辨率和调色板均可调节。汇总统计数据（最小值、最大值、平均值、标准差、峰谷值）实时计算。

数据存储与导出

所有测量数据均以 CSV 文件形式存储在集成 PC 上。每一行包含日期、时间、循环名称、测量序号、X/Y/Z 位置、所用校准、操作人员备注、原始光热信号以及最终厚度值。存储目录和文件命名规则可在启动器设置中配置，便于通过局域网共享文件夹与 MES 或 SPC 系统集成。

07 — 技术规格

完整技术数据表 — HKL2 检测站

主要测量参数

典型重复性

机械与装载特性

电气与环境规格

安全装置

所有数值均为典型值。实际性能取决于所选部件组合（模块功率、光学工具、涂层类型）以及目标应用。如需针对您的样品进行性能诊断，请联系 Enovasense。

08 — 检测站配置

HKL2 可选激光模块

HKL2 检测站始终配备一个集成的 Enovasense Point Sensor，并配置下列激光模块之一。波长和功率的选择取决于涂层材料和待测厚度范围。在已部署的 HKL2 中更换不同激光光源只能由 Precitec Optronik/Enovasense 人员进行，因为可能需要更换激光安全门。

激光光源的最大功率可能比标称值低最多 30%。与 T060 探头配合使用时，HKL2 还兼容各模块的 T060 版本（C3-WxxxPx-T060）。

典型测量距离和光斑尺寸 — 选型表

零件上的测量距离和光斑尺寸由探头上安装的光学工具决定。HKL2 兼容 Enovasense 全系列工具 — 简单透镜（垂直测量）、Mirror+Lens 工具（水平测量）以及 Lens+Mirror 工具（在狭窄圆柱孔内测量）。

有关内置 Point Sensor 配置的更多详情，请访问 Point Sensor 页面。

09 — 选件与配件

根据您的应用扩展 HKL2

我们提供多种选件和配套附件，可使 HKL2 适应特定应用：

10 — 在 Enovasense 产品系列中的定位

HKL2 在 Enovasense 检测站系列中的位置

HKL2 是 Enovasense 产品系列中的入门级三轴笛卡尔检测站。当待测零件为平面或具有简单的三维几何形状，且产能要求适合实验室或线旁使用时，它是合适的选择。对于更复杂的零件或在线集成，Enovasense 还提供更大型的检测站：

不确定哪款检测站适合您的应用？请联系 Enovasense，并说明您的涂层和基材、零件几何形状、厚度范围以及生产节拍 — 我们将为您推荐合适的检测站、激光模块、探头和光学工具组合，并安排使用您自己的样品进行免费性能诊断。